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多波长激光扫描晶圆表面检测设备
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IM-7 | 库存：5 | 订货编码：PT200004140003 | 在线询价 | -+ |
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产品应用： ●CMP后表面颗粒/划痕检测。 |
产品特性： ●50nm缺陷检出能力、多波长激光扫描。 |
产品规格： ●Nidek IM-7。 |
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