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X射线晶圆缺陷检测设备
上市时间：2025-04-16 16:31:20
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PW2800 | 库存：5 | 订货编码：PT200004140004 | 在线询价 | -+ |
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新品特性：
多光束校准技术、支持300mm晶圆全自动扫描
产品应用： ●晶圆内部缺陷检测、材料成分分析。 |
产品特性： ●多光束校准技术、支持300mm晶圆全自动扫描。 |
产品规格： ●PANalytical(PHILIPS) PW2800 。 |
产品展示图：
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